小猫爪：S32K3学习笔记12-S32K3之STCU2
1 前言
这一章来说说S32K3的STCU2（Self-Test Control Unit ），从名字就可以看出来，它是一个自测试控制模块，即BIST（Build-In Self-Test）控制器。BIST简单的来说就是一种芯片自我测试方式，谈到自我测试，无外乎就类似于那种给个输入然后对比输出的测试方法，当然我说的比较片面，感兴趣的小伙伴可以自行查阅资料进修一番。
BIST又分为LBIST（Logic BIST）和MBIST（Memory BIST）这两种。而在K3中，这两种BIST都是有的。而BIST又有两种模式，分别是off-line和on-line，其中off-line就是不需要软件的干预，硬件自己完成BIST测试，而on-line则需要软件来控制，S32K3只支持on-line模式。
2 STCU功能简介
下图为STCU的功能框图：
- 三个FSM：STCU有三个FSM，其中Master FSM为STCU的核心单元，主要负责BIST测试控制；Loader Shifter FSM主要负责控制参数和测试结果反馈到寄存器之间的交互；WDG FSM为STCU的超时监测单元，如果BIST运行超时，这个模块会中断BIST并发出超时信号，并且。
- LBIST和MBIST interface：在整个BIST自测试中，STCU只是控制单元，所以这两个interface是控制单元与执行单元之间的接口。
- Interrupt信号：STCU检测到错误时可以产生一个中断，STCU_LBIST_MBIST_IRQn =191（但是这个中断在RTD中并没有被实现）。
- FCCU信号：STCU可以将recoverable错误输送给FCCU，而这个是否为recoverable是可配置的。MBIST将K3分成了12个区域，而LBIST则共1个区域，总共有13个区域（详情请详见RM手册STCU章节的51.1.3 STCU2 LBIST/MBIST mapping），用户是可以将这些区域的配置成是否为recoverable和unrecoverable的BIST，如果是recoverable的区域在自测试的时候发生了错误，那么这个错误就会报告到FCCU模块，如果unrecoverable的错误发生了错误，则直接发送信号给MC_RGM触发破坏性复位。另外STCU也可以控制EOUT信号，发生错误时可以使用EOUT将错误信号传送给外部SBC。
2 BIST MCAL配置
在MCAL中，STCU的功能体现在Bist模块中，配置也是非常的简单，记得首先需要在Mcu模块中打开STCU的时钟，这里就不贴图了。首先首页中：
然后可以在Unrecovery中添加不可恢复发送触发破坏性复位信号到MC_RGM中的BIST区域：
2 BIST代码示例
下面直接进入主题，在代码中怎么实现BIST的功能？代码实现也非常简单，首先BIST的代码官方的例子已经写好了，直接拿过来如下：
#ifdef DEMO_ENABLE_BIST
bistStatus = Bist_GetExecStatus(BIST_SAFETYBOOT_CFG);
if( bistStatus != BIST_OK )
{
if(bistStatus == BIST_ERROR)
{
/* Reads STCU ERR_STAT register to identify what HW error occured */
stcuStatus = Bist_GetRawErrorStatus();
(void) stcuStatus;
}
else if(bistStatus == BIST_FAILED)
{
/* Analyze which reset domain is failing */
retStatus = Bist_GetFailRDs ( &Bist_LBistRDList, &Bist_MBistRDList );
(void) retStatus;
}
else if(bistStatus == BIST_BUSY)
{
while( 1U ); /* Handle BIST HW busy state */
}
else if(bistStatus == BIST_NORUN)
{
/* Bist execution was not successfully performed due to HW hazard state. */
Bist_Run(BIST_SAFETYBOOT_CFG); /* Re-start execution */
}
else if(bistStatus == BIST_INTEGRITY_FAIL)
{
while( 1U ); /* Handle the integrity fail state */
}
}
#endif
其中Bist_Run即是执行BIST测试，可以看到它可以以两种模式来运行，分别是BIST_SAFETYBOOT_CFG和BIST_DIAGNOSTIC_CFG，其中两者的区别为：
所以根据上面的描述，一般在代码中只需要执行BIST_SAFETYBOOT_CFG即可。当BIST测试完毕后，则会触发Function Reset信号复位K3，Function Reset是不会复位STCU模块的，所以在复位之后，在复位前BIST运行的结果是能读取的，在代码中就是Bist_GetExecStatus这个函数来获取BIST测试结果的，非常简单。
在这里需要注意一点就是，对于破坏性复位来说，是会复位STCU模块的，所以每一次的破坏性复位之后都会进行一次BIST测试。
另外在执行Bist_Run时，需要保证当前S32K3的状态，做好充足的准备，如下：
- 在执行时，只有一个核在运行，并且保证这个核的运行不会被其他操作影响。
- 所有的通讯外设必须Disbale，也就是说运行BIST前不要初始化任何通讯外设。
- FCCU所有错误响应都要Disable。
- 在执行BIST的时候，不能有任何的复位操作。
- S32K3的时钟要工作在高性能模式下。
- LBIST的时钟要设置成40MHz,即AIPS_SLOW_CLK=40MHz。
- 系统时钟来源于PLL。