最近吾爱IC社区星球会员问到跑place_opt_design时会报错退出的情况。小编今天把这个错误解决办法分享给大家。主要分享三个方法，大家可以根据自己的实际情况来选择。

数字IC后端低功耗设计实现案例分享(3个power domain，2个voltage domain)

**ERROR: (IMPSP-9100): Scan chains exist in this design but are not defined for 70.89% flops and -place_global_ignore_scan is set to false. Placement and timing QoR can be severely impacted in this case!

It is highly recommend to keep -place_global_ignore_scan option as its default value ‘true’ with scan chains definition.

数字IC后端实现之Innovus Place跑完density爆涨案例分析

这个错误是报告设计中存在scan chain即寄存器的SI端是有逻辑连接（寄存器的Q接另外一个寄存器的SI端），但没有scan chain def信息。

关于读入scan def的好处是工具可以根据扫描链的信息做scan chain reorder，改善整体设计的congestion和绕线。

解决方案一：

找做综合的工程师要一个scan chain的def。跑place前defIn读入即可。

解决方案二：

通过设置placeMode。具体设置命令如下：

setPlaceMode -reset
setPlaceMode -place_global_ignore_scan true
setPlaceMode -place_global_reorder_scan false
setPlaceMode -place_global_exp_allow_missing_scan_chain true

解决方案三：

暂时把设计中的scan chain连接端口，这样就等效于设计中没有scan chain了。

proc disconnectSI {} {
set op [open detach_term.tcl w]
foreach pin [get_db insts .pins.name */SI] {
set inst_name [get_db pin:$pin.inst.name]setne{t}_{n}ame[ge{t}_{d}bpin:$pin .net.name ]
if {$net_name == “”} {continue}
if {[is_common_ui_mode]} {
puts $op “disconnect_pin -inst $inst_name -pin SI -net $net_name”
} else {
puts $op “detachTerm $inst_name SI $net_name”
}
}
close $op
puts “Please source the created file detach_term.tcl”
}

使用方法：

1）source disconnectSI.tcl

2）source detach_term.tcl

其中detach_term.tcl的内容如下所示。

在咱们社区低功耗A55高性能CPU项目powerplan阶段我们为了给tapcell secondary pg pin走线，我们需要将设计中连接到1’b0和1’b1信号断开，否则routePGPinUseSignalRoute会报错。

所以在数字IC后端设计实现过程中我们经常需要见招拆招，规避掉工具没有考虑到的问题。