目录
一、实验目的
1. 掌握移位寄存器的工作原理和设计方法。
2. 理解串并数据转换的概念和方法。
二、实验环境
1. 装有ModelSim和VIVADO的计算机。
2. Sword实验系统。
三、实验任务
1. 用VerilogHDL语言设计实现8位带并行输入的右移移位寄存器，在ModelSim上实现功能仿真。
2. 生成FPGA设计文件，下载到Sword实验系统上验证电路功能。
四、实验原理与实验步骤
1. 实验原理
在移位寄存器中,要求每来一个时钟脉冲，寄存器中的数据就会按顺序向左或者向右移动一位。因此，在构成移位寄存器时，必须采用主-从触发器或者边沿触发器，而不能采用电平触发器。
数据输入移位寄存器的方式有串行输入和并行输入两种。下图是串行输入移位寄存器。在时钟的作用下，输入数据进入移位寄存器最左位，同时，将已存入寄存器的数据右移一位。并行输入方式是把全部输入数据同时存入寄存器。
下图是具有串行和并行输入的8位右移移位寄存器模块。
通过并行输入命令选择是串行输入还是并行输入。
2. 实验步骤
（1）用Verilog语言采用结构描述或者行为描述方法设计一个仅带有8bit并行输入的右移移位寄存器。
（2）编写测试模块，完成modelsim下电路的功能仿真，验证电路功能。
（3）建立完成I/O引脚分配。
系统时钟为100MHz，从提供的clkdiv引出clkdiv[24]作为移位控制时钟。
测试移位寄存器时采用开关SW[0]~ SW[7]作为移位寄存器的并行输入，SW[15]作为clr信号，将输出显示在led[0]~led[7]上（或同时显示到led和数码管上）。设置相应的约束文件。
设计实现实验原理中图2“带有并行输入的移位寄存器”电路模块，并在modelsim下完成电路仿真。
SW[9]作为选择串行还是并行，SW[8]作为串行输入
top.v
module TOP(input wire clk_100mhz,
// I/O:
input wire[15:0]SW,
output wire led_clk,
output wire led_clrn,
output wire led_sout,
output wire LED_PEN,
output wire seg_clk,
output wire seg_clrn,
output wire seg_sout,
output wire SEG_PEN
);
wire[31:0]Div;
wire[15:0]LED_DATA;
wire CK;
wire[63:0] disp_data;
wire[7:0] out;
shift2 U1(SW[7:0],Div[24],SW[15],out,SW[8],SW[9]);
shumaguan U3(disp_data[63:56],out[3:0]);
shumaguan U4(disp_data[55:48],out[7:4]);
clk_div U8(clk_100mhz,1'b0,SW[2],Div,CK);
assign disp_data[47:0]=48'hffffffffffff;
P2S #(.DATA_BITS(64),.DATA_COUNT_BITS(6))
P7SEG (clk_100mhz,
1'b0,
Div[20],
disp_data,
seg_clk,
seg_clrn,
seg_sout,
SEG_PEN
);
LED_P2S #(.DATA_BITS(16),.DATA_COUNT_BITS(4))
PLED (clk_100mhz,
1'b0,
Div[20],
LED_DATA,
led_clk,
led_clrn,
led_sout,
LED_PEN
);
assign LED_DATA = ~{out[0],out[1],out[2],out[3],out[4],out[5],out[6],out[7],1'b0,1'b0,1'b0,1'b0,1'b0,1'b0,1'b0,1'b0};
endmodule
shift2.v
module shift2(D,clk,rst,Q,din,sel);
input[7:0] D;
input clk,rst,sel;
input din;
output[7:0] Q;
reg[7:0] Q;
always@(posedge clk)
begin
if(sel)
begin
if(rst) Q<=8'b00000000;
else Q<={din,Q[7:1]};
end
else
begin
if(rst) Q<=D;
else Q<={Q[0],Q[7:1]};
end
end
endmodule shumaguan.v