目录
1.3 双极晶体管(BJT,Bipolar Junction Transistor,空穴和自由电子都参与导电)
1.4 场效应管(FET,field effect transistor)
【01】绪论
第一章 常用半导体器件
1.1 基础知识
1.1.1 本征半导体
一、半导体
1.概念:导电能力介于导体与绝缘体的材料
2.本征半导体:纯净具有晶体结构的半导体
二、本征半导体的晶体结构
三、载流子
1.本征激发(载流子越多,导电能力越好;与载流子浓度,温度有关)
2.自由电子(可以自由导电)
3.空穴(相对运动)
如果加一个电场,在电场力的吸引下,共价键中的价电子会填补空穴,价电子依次填补空穴
造成了空穴的相对移动。空穴也能动,也是一种载流子,也能导电。
总结:本征半导体中有两种载流子:空穴和自由电子。本征激发越多,导电能力越好。
4.复合(与本征激发相反)
自由电子撞到空穴,这一对自由电子空穴对湮灭,重新变成共价键的价电子。
本征激发、复合的速度、温度决定了载流子的浓度。
与本征激发相反的运动是复合
本征半导体的导电能力和载流子的浓度相关
【02】PN结的形成
四、载流子的浓度(与温度有关)
1.1.2 杂质半导体
一、本征半导体掺入少量的杂质元素
二、N型半导体
1.掺入P(磷)
2.自由电子——多数载流子(多子)【温度对多子影响不大】
3.空穴——少子【温度对少子影响较大】
三、P型半导体
掺入B(硼),空穴——多子,自由电子——少子
1.1.3 PN结
一、PN结的形成
1.扩散运动(多子)
2.空间电荷区,耗尽层,阻挡层,PN结
3.漂移运动(少子)
4.对称结、不对称结
二、PN结的单向导电性
1.外加正向电压
外加电源的正极接到PN结的P端,负极接到PN结的N端。此时外加电场和内电场方向相反,使得扩散作用加强,漂移运动减弱,扩散电流大于漂移电流,PN结内的电流主要由扩散电流决定(正向电流),空间电荷区数目减少,空间电荷区变窄,内电场减弱。正偏的PN结表现为一个很小的电阻。
外加电压,加一点相当于把势垒削低一点,刚开始可能还是没有几个能过去,但是再降,就有大量能过去。使得扩散运动重新恢复,电流迅速增大。因此,要对电流加以限制,不然PN结会烧掉,所以加了一个限流电阻R。
2.外加反向电压
外加电源的正极接到PN结的N端,负极接到PN结的P端。此时外加电场和内电场方向相同,扩散作用减弱,漂移运动加强,扩散电流低于漂移电流,PN结内的电流主要由少子的漂移电流决定(反向电流),空间电荷数目增多,空间电荷区变宽,内电场加强。由于少子是由本征激发产生的,浓度较小,因此PN结反向电流远小于正向电流,在一定温度下,少子的浓度基本不变,PN结反向电流几乎与外加反向电压无关,又称反向饱和电流Is,与温度有关。反偏的PN结基本上是截止的,表现为很大的电阻。
3.伏安特性
利用可以制作稳压二极管
三、PN结的电流方程
Is:反向饱和电流,UT:温度当量,温度转化成电压,室温UT=26mV
Us:反向击穿电压(掺杂浓度控制),U:PN结上所加的电压
PN结导通电压——Ge:0.2-0.3V(一般取0.3V),Si:0.6-0.8V(一般取0.7V)
【03】PN与二极管的特性
四、PN结的伏安特性
1.正向特性
死区
2.反向特性
Ge的Is比Si大
3.反向击穿
(1)雪崩击穿(掺杂浓度低;温度越高,所需击穿电压越高,过程)
足够的场强,PN结就变成了一个粒子加速器撞到共价键上,共价键变成自由电子,这个PN
结就击毁。
条件:一定要给PN结足够的宽度,足够的场强。
(2)齐纳击穿(掺杂浓度高;温度越高,所需击穿电压越低,直接拉)
PN结窄,场强非常大,价电子就被拉出来了,PN结被击毁。
思考题:半导体为什么不掺杂6价元素
1.为了让半导体在特定的条件下有更好的导电性,就需要让它内部的电子能够更好的跃迁,故此我们需要掺杂杂质到本征半导体中。 一般来说,为了有更好的导电性,我们会选择五价的杂质,这时候的施主能级与导带之间的禁带宽度变小,价电子变得更加容易跃迁,能够让导电性更好。 而六价或者七价电子,它的施主能级相对于原本的本征半导体来说提升非常小,甚至可以忽略不计,故此在一般情况下是不会掺杂的。
2.对于本征半导体即没有掺杂的半导体材料而言,存在导带和价带,他俩之间称之为禁带,因为禁带宽度较大,所以室温下价带的电子很难被激发跃迁到导带上,所以基本上不导电。为了让其在特定的条件下具有良好的导电性,所以我们给它掺杂,目的是在导带和价带之间引入一个施主能级,该能级到导带的禁带宽度很小,施主能级上的电子很容易被激发跃迁到导带上,提高导电性,而五价杂质恰好满足这一要求。六价杂质则不行,因为掺杂后,施主能级离价带非常近,相反,离导带距离较远,所以和本征半导体的导电性差不多,掺杂的意义不大。
3.从导电原理上讲,分别掺入低于三价的原子,或掺入高于五价的原子,也是可行的.为何不如此的主要原因是:要最大限度地保持原来单晶结构的完整性.往硅中掺杂,是替位式掺杂,掺入的原子要取代硅原子的位置.为保持晶体的完整,尽量减少晶体缺陷的产生,所以掺杂原子要选择大小与硅原子相差不大的原子为主.三价原子和五价原子就最合适.——摘自B站评论
雪崩击穿:温度越高,雪崩击穿所需要的击穿电压越高。
齐纳击穿:温度越高,齐纳击穿所需要的击穿电压越低。
解释:
齐纳击穿:温度越高,价电子越容易拉出来,热运动能量越高。
雪崩击穿:雪崩击穿需要粒子有一个加速的形成,如果能保证它畅通无阻的行程越长,所需要的电压越低。当温度升高,晶格结构开始震,使得自由电子的自由行程越短,需要电压高。
五、PN结的电容效应
1.势垒电容
用途:可变电容
2.扩散电容
非平衡少子与电压之间的关系
1.2 半导体二极管
1.2.1 常见结构
1.2.2 伏安特性(几乎同PN结)
一、伏安特性
(1)体电阻的存在,相同的电压,电流比PN结小
(2)反向电流大一些
二、温度的影响
1.温度升高(温度曲线的解释:热运动加剧,本征激发,电流变大,少子影响明显,反向饱和电流向下走),正向左移,反向下移
2.室温,每升高1℃,正向压降(电压)减小2-2.5mV;
每升高10℃,反向电流增大一倍
【单向导电性:规定电流路径;正向,电压变化小,稳压;反向,饱和,温度传感器】
1.2.3 二极管的主要参数
一、IF最大整流电流
二极管长期工作的时候所能够通过的正向平均电流的最大值
【04】二极管的直流等效电路
二、UR最高反向工作电压
因为正向导通情况下,工作电压在0.7V(Si),所以关心其电流,防止烧坏;反向存在击穿,所以要关注外加电压,防止超出工作范围
——当二极管处于反向偏置状态时,如果施加的反向电压超过了UBR,就会出现反向击穿现象,使得电流急剧增大,可能导致二极管损坏。
三、IR反向电流(未击穿时)
因为有反向饱和电流,反向饱和电流是pn结反向偏置时,跨pn结形成的电流,这个电流很小,可以忽略不计,所以称pn结有反向截止的特性。
四、fM最高工作频率(Maxmium Frequency)
X(容抗)=1/2丌fC。交流电频率很高,不停地给电容进行充放电。而充放电的过程有电流流通,相当于通电。所以二极管变成双向导电,失去单向性。
1.2.4 二极管的等效电路
一、等效电路
外特性(电压—电流),物理原理
二、伏安特性折线化
(a)理想二极管,不考虑功率,虚线是实际模型
(b)有导通电压,导通压降指的是导通时二极管两端的电压,导通,电压就不变(二极管近似等效,电流大范围对应电压小范围)
(c)直流情况,有导通电压+电源(压降=电压)
【随堂】开路输出电压U0的波形?
限幅电路(二极管正向导通,反向截止,不考虑反向击穿)
整流(理想二极管,Uon=0)
10mV想让二极管工作,加电压;还可以加频率,利用结电容特性
【05】二极管的微变等效和稳压二极管
弹幕助记:
%iD和uD的图像,就是描述作用于二极管两段的瞬时电压和瞬时电流的关系
%为啥不是Ui-Uon的,Id是二极管经过的电流也是电路里的总电流,欧姆定律U总除R总
%小写d下标为纯交流电压源头时电压电流(ui为电压源电压而不是UD代表的二极管电压)
%id的变化量比上ud的变化量,就是求这一段曲线的斜率,也就是求导,求这段曲线的的线性等效方程
%rd动态电阻,与静态位置(工作点),温度相关(ID是取得这点的静态电流值)%至于Q点电流为什么用ID表示,那是因为两个大写字母表示直流信号,Q点只有直流信号作用
%这边的iD是小交流(id)+直流(ID),这边iD≈ID可能是因为小交流很小可以忽略吧
%这里还是可以用直流将交流托出水面,静态工作点不同(直流不同),交流上升水面的高度(即位置)就不同
三、二极管的微变等效
1.分析直流,求出ID(静态)
2.rd=UT/ID(二极管等效)
弹幕助记:
%二极管导通后接近稳压,v-uon就是电阻R两旁的电压
%前面的,求的是ID,是静态工作点的电流,静态时二极管导通可以看作导线,rid是交流,别搞混了
%直流工作状态下,二极管不等效为电阻所以不加rid
%Uon是二极管导通压降
%rd等效之后,Ui不能和V共存;rd能求出,假想坐标原点移动 (考虑线性关系)
%这里是直流把二极管给打通了,打通了之后二极管就会流过电流,并且打通了之后电流就会根据电压进行变化,而且很像一条直线,就可以等效成电阻
%就是先用直流确定了研究交流的“新起点”以此为基准研究交流,此点往后不用考虑直流了%直流被二极管分压了,直接看成直流消失,然后过原点的线性方程,可以成线性关系
弹幕助记:
%无法理解的话,Rd=△U/△I,把他画成等效电路是没有直流电源的,只有交流
%仔细体会一下小信号分析和叠加原理是不一样的,叠加原理只针对线性电路成立。小信号分析思路虽然和叠加原理很像,但是概念是完全不一样的
%用电路学的分析法,当交流直流同时存在,用叠加原理分开讨论
%iD表示直流交流一起的电流,id表示只有交流的电流,ID表示静态工作电流值
1.2.5 稳压二极管
一、特点
可以工作在反向击穿状态下
%反向击穿可以通过调节掺杂浓度从而调节击穿电压
%小于6v 齐纳击穿;大于6v 雪崩击穿
二、伏安特性
三、主要参数
温度系数α,稳定电压Uz
弹幕助记:
%<4V时,当温度升高时,电子热运动加剧,较小的反向电压就能把价电子从共价键中拉出来,所以温度上升时,击穿电压下降,也就是说,齐纳击穿具有负的温度系数
%温度越高,电子接受到能量越多,越容易被电压拉出来,所需要的电压就越小,稳压越容易被击穿
%>7V时,雪崩击穿为主,正的温度系数,因为雪崩击穿温度越高粒子越活跃,电子想要通过就越难%雪崩需要加速 温度越高 晶格散射越强 速度越不容易起来
%温度升高,晶格震动阻碍粒子加速,粒子平均自由程缩短,加速达到击穿所需速度概率降低%T升高
雪崩击穿,粒子初速度增加而降低了加速时间,Uz升高
齐纳击穿,价电子更容易脱离共价键束缚,Uz降低
IR=(10-6)/200=20mA,IL=6/800=7.5mA,IDZ=12.5mA
%正常8V,但是因为稳压二极管最大6V
%如果,R与RL数值互换,即R=0.8k,RL=0.2k
IR=5mA,IL=30mA,IDZ=-25mA(U0=2V,稳压二极管没有击穿)
%老师说了第一步先假设二极管不导通,这是两个R是串连分压,U0=8V,UR=2V(此时是按R=0.2k,先把二极管所在的电路当成断路)
%老师的意思是将二极管视作截止,算出来的U0是8V,大于6V,反向击穿
%3V稳压二极管得到3V稳定电压,如果没有RL,满足;
如果有RL,分压(RL(eg.继电器)越小,分得电压越多)
%得到6V的电压源(稳定电压)
必须添加限流电阻
【06】双极晶体管的结构与放大原理
1.3 双极晶体管(BJT,Bipolar Junction Transistor,空穴和自由电子都参与导电)
1.3.1 结构及类型
一、构成方式
%发射区:多子浓度(掺杂)高(发射载流子),
集电区:面积大(收集载流子),
基区:掺杂浓度比较低,非常薄(控制)
二、结构
三个区域,三个电极,两个PN结(发射结;集电结)
1.3.2 电流放大作用
一、放大
(现象:Ic与Ib的比值近似一个常数β)
%其实这个放大,指的是把一个小电流的变化,注意是变化,复制到一个大电流上。让大电流的变化和小电流变化一样,也就是信号复制,能量等效放大,并不是电流真的莫名变大了。
二、基本共射放大电路
弹幕助记:
%共射是指输入的小信号和发射级共地
%Rb,限流电阻
%直流是基础,交流是目的
%《把1V的电源加在元器件两端的含义就是这个元器件两端的电压是1V》
%发射结指的是三极管的箭头代表的PN结。
%内电场是n到p,外电场是p到n,这时候从P指向N,所以是正向偏置
%发射结正偏,集电结反偏,三极管工作在放大状态
%VCC>VBB,发射结正向导通,正向偏置(正偏)
%不用按老师那样看电位,直接看回路,和前面PN结正向导通反向导通是一个东西,正偏就是正向导通,反偏就是反向导通
%发射结看左边回路,是正向导通,集电结看整个大回路,一节电池与两节电池抵消一个,正极在上,反向导通,称反偏
%发射极接地是0v,基极极电位是VBB,集电极电位是VCC,其中基极电位大于大于发射极电位,故发射极正偏,由VCC大于VBB,有集电极大于基极,故集电极反偏,即当P端电位大于N端电位时,PN结导通
%因为电流方向,从p到n是正偏,从n到p是反偏。所以c到b是反偏、b到e是正偏
三、内部载流子的运动
1.发射结正偏
发射区的自由电子扩散到基区,基区的空穴(很少)扩散到集电区,IEN自由电子扩散,IEP空穴扩散,IEP+IEN≈IEN
%发射结正偏的后果是发射结正向导通了
%扩散到基区之后少部分被基区空穴复合,然后因集电结反偏造成漂移运动继续走向集电区
%发射区参杂浓度高,多子浓度高,基区参杂浓度低,且薄,多子浓度低。当他们同时发生扩散运动时,所产生的电流就是一个大一个小,所以IEP与IEN比较时,IEP可以近乎不计。
2.基区
扩散(向集电结,与浓度梯度有关)、复合、(基极)产生
%通常价带电子是满的,导带是空的,当价带电子跃迁到导带后形成一个空位,电流就是导带电子和价带电子之和,但价带所有电子可等效为一个空穴,这就是两种载流子。
%所说的自由电子就是导带电子,空穴是所有价带电子的等效
%非平衡少子比多子多,基区(自由电子作为非平衡少子向集电区漂移运动)
%可以把空穴比作河里的鳄鱼🐊,电子比作过河的角马🐎(基区制作要求:薄且掺杂浓度低,河窄且鳄鱼少,彼岸是集电区)
%鳄鱼把电子都咬到嘴里了,结果又被不讲理的vbb给拿走了。鳄鱼嘴里还是空的。(新产生的空穴是因为电子被吸引到Vbb的正极板了)
%书上写:基区被复合掉的空穴由外加电源拉走自由电子来补充
%基区的空穴可以说是ib提供的,所以当基区自己的空穴没了之后基区的空穴产生速度由ib决定,所以ib和ic能成比例
%自由电子到基区了,基区本来自由电子是少子,但是扩散的非平衡少子比它原来的多子还要多。自由电子聚集浓度特别高,继续向前扩散。经过基区,往集电极扩散;扩散的过程中,在基区必然发生复合;由于两点:基区薄且掺杂浓度低,目的就是让绝大多数的自由电子能扩散到集电极;基区的掺杂浓度和宽度决定了复合的百分比;但是,基区的整个掺杂浓度是不变的;由于复合百分比的固定,所以
3.集电区收集自由电子
%集电极反偏, 增大少子的漂移运动, 发射结的多子扩散到基区,变成基区的少子
%因为电子带负电,与电场力相反,会被电场力拉上去(ICBO)
%*集电区反偏保证扩散速度不变*(因为电子被VCC吸引)
%集电结正偏,没有势垒了,就跟没有pn结了一样(可能)
%IB=IBN(复合)+IEP(多子扩散)-ICBO(少子漂移)≈IBN
四、放大系数
1.共射直流放大系数
%这里是IBN而不是书上的IB'是因为IEP很小老师把IEP约了 后面会说 不懂不要误人子弟
2.ICEO:穿透电流
当基极开路的时候,发射极和集电极之间的电流
3.ICBO:反向电流
4.α共基
%阿尔法=Ic/Ie。其中Ic=*Ib,Ie=Ic+Ib=(1+)Ib,所以等于/(1+)
5.共射
6.共基
【07】BJT特性曲线共射(二极管的应用)
1.3.3 BJT共射特性曲线
一、输入特性
%横轴表示的是uBE,曲线标注的是uCE
%大于1V基本不变是因为此时集电结反偏电压已经将大部分电子捕获 对基区的电流Ib基本忽略不计(影响很小)
%Vce足够大后,在相同Vbe下,基区绝大多数电子已被集电区收集
%曲线右移是因为uce增加使集电结吸引电子能力增加 ube相对减少 如果达到相同电流效果需要更高电压
%Uce变大,微观上就是 集电区 从 基区 “吸取”电子的能力变强
%如果要保持 ib 不变,就必须让更多的电子(空穴太少忽略不计)从 发射区 扩散 至 基区
%所以 Ube 要增大,使得更多的电子到达 基区,从而保持 Ib 不变
%Uce增大,Ib不变,Ube增大:可以理解为Ube增大和Uce争电子,才能和原来保持一样。不然人家Uce太强了,夺走了本来属于你的东西,只有你变强,才能夺回来。)
%Ube的大小决定了发射机吸取电子的数量啊,这部分电子会有极小部分流向基极,产生ib
二、输出特性
研究的是iC和UCE之间的关系
有iB说明发射结正偏,关键在于集电结能否反偏
%这里是指UBE比UC高,UCE等于0,即UC=UB
%B比E高,然后CE一样高,所以B比C高,就成正偏了
%这里uce增大,ic不变原理和刚刚输入曲线的一样,uce再大集电极的电场足够强了,基极的非平衡少子被收集的速率达到饱和了,那电流ic就不会变化
截止区——穿透电流
饱和区,uCE非常小(集电结正偏)
%UCE=UCB+UBE,UCE很小,小到小于UBE,UCB正偏,管子工作在饱和区,PN结都正偏,相当于自由交通的状态
%共射的情况下,发射极接地,uce小于ube这样基区电势高于集电区电势,集电结从p向n正向导通,就是正偏
%uce很小,电压几乎都加在Rc上,所以电流几乎等于Vcc/Rc
%不是串联!串联两个二极管是反向的,是并联!%这里原本就处于放大状态,集电结反偏,发射结正偏。结果ib不断增大,vb都比vc大了,这时候就集电结正偏了,就到饱和区了
%如何理解饱和区?
两个PN结都正偏,相当于内部是开通的,相当于导体、电阻
当集电结正偏了,它收集电子能力就没有了,集电结这里就是自由扩散
1.放大区
iB=β*iC
2.截止区
双结反偏,ce断路
3.饱和区
双结正偏,UCES,ce开关闭合,βIB>Icmax
%正偏,相当于外加正电场,削弱内电场作用(消除势垒),电子自由流动,相当于导通
%饱和就是IC一直增大,那uce必然减小,那C级电位就减小,本来集电结反偏是要C点电压比B点高的,C一直降低就会正偏,发射结和集电结都正偏三极管就好像导体,IC和IB已经没关系了
%这里随着Ib增大,Ic增大,Rc这个电阻分到的电压增大,因此Uce逐渐变小,直到pn节的正向导通压降,此时,集电结正偏,IIc达到饱和状态,大小由外电路决定。
1.3.4 主要参数
1.3.5 温度的影响
一、输入特性
温度升高,曲线左移
温度升高,让发射结正向压降降低,
%每升高一度,正向压降少 2~2.5 mV,每升10度,反向电流增加一倍
二、输出特性
1.3.6 光电耦合
1.3.7 光电三极管
【08】MOS管的工作原理
1.4 场效应管(FET,field effect transistor)
场效应管:结型场效应管和MOS管
基本原理:靠电场效应;几乎没电流,没功率付出;从控制回路上来说,消耗的功率非常小。输入电阻非常高;晶体三极管自由电子和空穴都在导电,受温度的影响比较大,有少子的参与;而场效应管只有多子参与导电,所以它的温度稳定性要好很多;在晶体三极管中靠分配电流。
1.4.1 结型场效应管
1.4.2 绝缘栅型场效应管(MOSFET)
一、N沟道增强型MOS管
1.结构
g栅极(b)——控制,s源极(e)——载流子的源泉,d漏极(c)——载流子的漏出处,绝缘栅——省电
%源极漏极作用是一样的,用于沟道电流的接通;栅极的作用为电压控制沟道载流子浓度
2.工作原理
(1)uDS=0,uGS>0
%绝缘层二氧化硅在电场的作用下形成了电容,电容内部有从上向下的电场
%温故:耗尽层:PN区交界处空穴和电子复合,多子数量下降的区域,又称为空间电荷区%N+表示注入浓度高
%FET可以等效为滑动变阻器,栅极作用(Vgs)是调这个电阻的大小,源漏(Vds)作用相当于在电阻上加电源
(2)UGS<开启电压UGS(th),截止
UGS>开启电压UGS(th),不变,UDS≠0,↑
%靠近源极处,栅极和沟道内个点电位差较大,电场强,感应出的电子更多,靠近D极,感应出的电子越少
%因为g,s电位不变,d电位升高,Ugd变小,对自由电子的吸引能力变差,自由电子变少,而Ugd的位置是在右侧,因此右侧变窄
%如果s处电势为0,则g处电势为GS,d处电压为DS。所以d和g的电势差为GS—DS%UGS-UDS=UGS(th),预夹断
%没有电流以后沟道的电压就和衬底一样了,在ugs作用下又会打开沟道,所以不会真的夹断
%也可以这样理解,实际电压uDS是电源给的,电源一直存在,不可能出现uDS=0的情况,在这样的情况下要使iD=0,电阻就要无穷大,耗尽层的电阻显然不可能无穷大
%所以rDS只会非常大,电流只会非常小,沟道不可能夹断,而是有一条小缝通过电流,uDS的增大会减小电流,本质上是电阻增大,沟道会越来越窄,缝会越来越长
%如果还不明白,就是Ugd电压因为Uds的增大变为了负数,原本是吸引自由电子,现在变成了驱逐自由电子,载流子变少,电流变小,但它不可能赶走所有的自由电子,所以还是有小缝通过电流
%就是因为电压大了,通过的自由电子更多了,但因为右边缝隙增大,自由电子通过的空间变小,阻值就大了
%注:本图象的斜率是电导。电阻变小则电导变大,故图象斜率变大。
二、N沟道耗尽型MOS管
UGS(off)夹断电压
【09】结型场效应管和特性
%N型半导体里面多子是电子,中间的是N型半导体
%真夹断是针对在没有Uds的情况下天生沟道 加Ugs到达某一个值id变0 预夹断是在针对Ugs和Uds共通作用下对id电流的影响
%这里只要记住:对于pn结来说,外加电压由p到n是正向,反之是反向,而反向电压会使pn结越来越厚,pn结单向导电。
1.4.3 场效应管的特性曲线与参数
一、转移曲线
(栅极型,条件:uDS足够大,恒流区)
二、参数
1.直流参数
UGS(th)、UGS(off)、IDSS、RGS(DC)
2.交流参数
(1)跨导(低频)
(2)极间电容(高频导通)